[参考译文] BQ79616-Q1：电源 BIST

您好、Pratz、

BIST_NO_RST 不需要运行 BIST_GO 测试、而是用于确保 BIST 可以通过将所有 FAULT_PWR_1/2位设置为高电平来强制发生故障。 否则、当故障寄存器中的每个位变为高电平时、我们会看到此响应、以表明 BIST 能够成功地强制每个位发生故障。 因此、在实践中–是的、当您设置 BIST_NO_RST 时、您可以将 PWRBIST_FAIL 忽略为真正的故障、因为任何 BIST 测试位都不会恢复到0 (在数据表中的寄存器 x0337下进行了说明)。

此致、

泰勒

让我重新表述我的问题、

根据我从第9.3.6.4.1.2段中的理解、FAULT_PWR2[PWRBIST_ FAIL]位用于指示 BIST 的结果。

• 如果 PWRBIST_FAIL 的值为0、则 BIST 成功、并且所有与电源相关的故障检测逻辑正常。
• 如果 PWRBIST_FAIL 的值为1、则表示 BIST 已在与电源相关的故障检测逻辑上识别出错误。

在我的情况下、在没有 BIST_NO_RST 的情况下运行 BIST 以 PWRBIST_ FAIL=1结束、我将其解释为芯片具有与电源相关的故障检测逻辑故障。 这是我的主要问题，因为这种错误是完全意外的。 该芯片是新芯片、在所有其他方面似乎都能完美工作(报告有效的测量值、通信正常等)。

为了进一步调查、我尝试使用 BIST_NO_RST 运行 BIST 以查看 BIST 故障的原因。 通过检查结果、我发现所有与 PWR 相关的故障均已设置。 这表示所有故障检测逻辑已对 BIST 做出"响应"、因此、BIST 应报告成功结果。 问题是、在本例中、PWRBIST_ FAIL 为1。

TL/DR：PWR BIST 指示出现故障、结果似乎相互矛盾。 你有什么建议吗？

我设法识别出可疑的人。 我发现、当在循环模式下启用 OV/UV 保护器时、PWR_BIST 将始终失败。
要重新创建问题，可以使用 GUI 执行以下步骤：

• 已发送硬件重置提示音
• 发出唤醒信号
• 执行自动寻址
• 重置所有故障
• 读取 FAULT_PWR2寄存器。 验证其值是否为0x00。
• 设置 PWR_BIST_GO 以开始测试
• 读取 FAULT_PWR2寄存器。 其值为0x00。 BIST 成功！
• 切换到保护器选项卡
• 将 OV 阈值设置为3000mV、将 UV 阈值设置为1200mV、并以循环模式运行
• 按下 RUN OVUV 按钮
• 设置 PWR_BIST_GO 以开始测试
• 读取 FAULT_PWR2寄存器。 其值为0x40。 BIST 失败！

这有点出乎意料、不是吗？

此外、无论保护器设置如何、如果设置了 BIST_NO_RST 位、PWRBIST_ FAIL 始终返回1、表示 BIST 失败。

在44.6V 的电压下、在 Vstack 和 GND 之间使用两个单独的 EVM 进行了测试。

PartID=0x21、

DIE_ID 0x21F0A3091806021B10