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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1048626/tps745-q1-output-accuracy-long-term-test-data
TPS745-Q1的输出精度是否有长期测试数据？
√、我想确定此参数是如何随时间漂移的、例如、作为特定的%/μ s KHR。
此类数据是否可在该器件的 PPAP 文档中获取？ 如果是、需要请求的级别是多少？
您好！
很遗憾、我们没有这些数据、很抱歉、我们无法为您收集长期输出漂移与时间之间的关系。
此致、
斯里卡纳特
Srikanth、
感谢您快速回答我的问题。
通过另一个渠道、我收到 了来自 TI 模拟现场应用程序的 Antonio Fadhel 的以下声明：
"您是正确的[数据表中 1.5%的最大输出精度考虑了老化问题]。 TI 器件旨在实现可靠性、使我们的机制(例如电迁移)开始磨损的时间超过使用寿命。 产品设计中还考虑了在整个生命周期内导致参数变化的机制、例如负偏置温度不稳定性(NBTI)和通道热载流子(CHC)。 这假设器件在数据表中指定的建议运行条件下运行。"
我相信 Antonio 谈论的主题与输出精度长期漂移完全不同。 你同意吗？
我猜输出电压漂移速率 为±0.1%/√KHR。 您是否有办法验证此假设的合理性？
Darren、您好！
如果器件在建议的工作条件下运行、则可以确保、即使在长期内、输出电压也不会在器件寿命期间偏离标称值1.5%以上。 因此，从这个角度来看，我同意安东尼奥所说的话。 器件的寿命以及相应的器件漂移速率将取决于 器件的使用条件(功率耗散、环境温度等) 更高的功率耗散和更高的环境温度会使器件老化得更快、并且很可能会增加漂移速率。 我们只能指定在器件的整个生命周期内漂移不会超过1.5%(这 取决于器件的使用方式)。 希望这对您有所帮助、如果您有更多问题、敬请告知。 谢谢！
