[参考译文] BQ40Z50-R2：定制 PCB 上的 BQ40z50-R2可熔断放电 FET

您好 Jeff、

我认为这些文件的连接不正确、您能否在测试前后为您的设置附加.gg 文件(测试后的 bqStudio 位仪表板图片也可能有所帮助)？ 您能描述一下 FET 损坏时所执行的测试吗？

此致、

Wyatt Keller

您好、Wyatt、

这是原理图。

e2e.ti.com/.../22000_2D00_06120_5F00_ControllerBMS_5F00_DNP_5F00_RevA_5F00_2021_2D00_10_2D00_13.PDF

出于某种原因、我无法让论坛附加 srec 文件。

让我看看我是否可以获得.gg 文件和屏幕截图。

您好 Jeff、

没关系、在之前和之后共享.gg 文件将非常有用、感谢您共享原理图。 您执行的测试过程也会导致这种情况发生。

此致、

Wyatt Keller

您好、Wyatt、

随附的是测试之前(安装了全新 FET)和测试之后(FET 未在此测试中熔断)的.gg 文件。

在测试过程中、我注意到虚拟负载看到的输出电压小于6V、但我期望值更接近11.2-ish。  大多数压降似乎在放电 FET 中、放电 FET 变得非常快(我不确定 FET 是否离开线性工作区域并进入饱和状态；我明天将检查此情况)。  我还检查了电池组输出和连接到虚拟负载的连接器之间的电压(即充电器页面原理图中的 Q8两端的电压)、得到的电压大约为20mV。

下面是我正在使用的测试过程：我将3节 INR18650-30Q 电池放入 PCB 上的电池座(电池组电压大约为11.2或11.3V)并连接 EV2400。  我启动 bqStudio 并确认与 BMS 的通信。  然后、我将一个虚拟负载连接到 J7。  为了进行这个测试、虚拟负载被设定为1A 或2A (我认为我上次用一个1A 负载将 FET 吹走)。  我启用负载、经过一分钟或一分钟后、我通常会从放电 FET 中吸出烟雾。  如果我运行测试的时间很短、例如30到45秒、放电 FET 似乎不会熔断-因此有关放电 FET 保持在线性区域而不是进入饱和状态的备注)。

e2e.ti.com/.../FET_5F00_OK_5F00_18oct2021.gg.csve2e.ti.com/.../After_5F00_test_5F00_18oct2021.gg.csv

您好 Jeff、

听起来监测计可能未驱动 FET、或者监测计与 FET 之间的连接存在一些问题。 如果引脚上有一些漏极、监测计电荷泵可能无法持续驱动它并导致它处于线性区域。

测试期间 FET 的 Vgs 是多少？ gg 文件完全相同、我认为这可能是因为 FET 未损坏。 如果监测计希望 FET 关闭时有电流流动、监测计应指示故障、在测试期间 bqStudio 仪表板上是否有任何变化？ XDSG 和 XCHG 是否已激活？

此致、

Wyatt Keller

您好、Wyatt、

在测试期间、VGS 约为1.35V、从第一节电池的负极端子到栅极的电压为6.07V。  CHG FET 的 Vgs 值约为11V、从第一节电池的负极端子到 CHG 栅极的电压约为21V。

具有放电 FET 栅极的节点具有反极性保护电路(2N7002K 和2N700002栅极上的10K 接地/ PACK-)、10M 从放电 FET 的栅极向下拉至源极(PACK+)。

我在昨天的测试中使用 bqStudio 记录了日志。  我已经附加了它、以防它有用。  昨天的测试过程中、我并没有真正关注我的笔记本电脑屏幕。

我特意未使放电 FET 在此运行中出现故障、因为我在替换 FET 上运行低电平。  如果这有助于调试电路、我可以使 FET 发生故障

.e2e.ti.com/.../FET_5F00_test-_2D00_-Copy.log

您好、Wyatt、

我从电路中移除了2N7002和相关的电阻器、没有任何变化。  值得注意的是、2N7002电路是从评估板复制的(我使用发布的 EVM Altium 文件开始此板的设计、并添加了充电器和电源块)、因此我不希望行为发生变化。 我从测试的 bqStudio 中附加了一个日志文件。 将 R4 (10M 电阻器从栅极拉至源极)似乎不会执行任何操作、但我将对此进行注射。  我还可以拉动将 BMS 连接到充电器/电路板其余部分的 FET、看看它是否会发生任何变化(尽管我同样怀疑这会发生什么变化)。

我是否有可能与将40z50重新工作到该板上的热气相关的东西做斗争？  

装配室在电路板上放置了一个40z555、而不是40z50 (请参阅 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1032366/bq40z50-differences-between-bq40z50-and-bq40z555?tisearch=e2e-sitesearch&keymatch=bq40z555#)、因此我们从备用评估板中偷走了一个40z50、以启动电路板的 BMS 部分。

e2e.ti.com/.../FE_5F00_test2.log

更新了：我删除了将充电器连接到 BMS 的 R4和 FET。  放电 FET 的 VGS 下降了大约一伏、因此我认为移除 R4没有什么帮助。

图像显示了我断开的电流。

来自测试的日志文件：

e2e.ti.com/.../FET_5F00_test3.log

现在、我们只有一个我使用过的板。  今天、我将构建第二块板、看看问题是否仍然存在。

管理问题：我对板上的其他两个 TI 器件(bq24113和 TPS55288)有疑问、我是否应该针对这些问题分别提出问题？

您好、Wyatt、

我今天有第二块电路板在工作、40z50的问题看起来是一次性的问题。