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[参考译文] UCC28782:Ucc28782关闭故障

Guru**** 2387060 points
Other Parts Discussed in Thread: ISO7710, UCC28782
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1041495/ucc28782-ucc28782-turn-off-failure

器件型号:UCC28782
主题中讨论的其他器件:ISO7710

您好:

我们最终使整个电路正常工作。 需要注意几个方面  

- S13、P13齐纳二极管上的启动电容器、耗尽模式 MOSFET 上的 TVS、  

-为了进行调试、在次级侧使用二极管更安全。 我们在对 MP6908进行了一些错误修复、从而使 EPC2034爆炸后了解到这一点。 我们已经找到了解决方法、但由于我们仍处于挖掘模式、现在使用二极管。

-如果控制器无法启动,我们将其隔离在 S13&PWML 节点上。 使用短互连线在小型 PCB 组件上插入外部脉冲。 通过这种方法、我们可以看到初级和次级波形中的所有开关、包括输出行为、当然是开环。

-电路中的分压器电阻值:需要调整 Vout 以使其不会过高而导致 OVP 跳闸(发生在调试期间、RV2似乎低于反馈)

-存在汇编错误:安装了一些不同值的值; 安装了正确的值。

完成所有这些后、我们加载了40W 的输出(转换器可以处理65W)。  

一切都如预期的那样:榨汁时间!

但是,有人想知道,如果我们拔下交流电源插头并重新启动,情况会怎样。

符合以下标准:  

电路未重新启动。 即使在多次尝试和负载更改后也不会如此。

设置"调试"脉冲电路后、我们发现较低的 NV6117似乎已损坏。 它进行了切换、但波形失真、周期缺失、负向尖峰急剧...

我们不知道上部 NV6117是否也损坏。  

但首先、我们需要分析 NV6117较低的器件的这种完全意外的故障。

对所附波形的回顾表明、故障不能是由下漏极上其他高峰值的高泄漏引起的。

为什么呢?

我们的假设如下

-交流电源已关闭。 但整流器电路具有250 uF 的电容器。 它具有足够的能量来持续为输出供电。

-当直流电压下降时,控制器在 VDD 时将所有功能保持在9V 的水平。 在反馈激活的情况下、控制器将强制保持增大脉冲宽度以保持输出。

如果是这样、在某个时候、我们怀疑 NV6117无法再提供足够的 VZ、输入失真 PWML、最终会损坏。 我们知道 NV6117对输入的行为非常敏感、即使在正常运行时也是如此。

如果此假设有效、则可能怀疑控制器也受到损坏。

- ISO7710、上部 NV6117是否也可能受到影响?

最大可能值。

你怎么看? 您对此失败的假设是什么? 其他人是否报告过这种情况?

我们显然需要增加一些保护措施:但首先,根本原因是什么?

只是没有足够的空间来添加这种延迟"关闭"保护方案。

但是、您对关闭失败的假设是什么?

随附:波形、原理图、光绘文件。 这些与 TI 在同一主题中的评估套件非常相似。

很明显,我们只能在 e2e.ti.com/.../W223912ASR37_5F00_GNMREQ30_2D00_002_5F00_COMBO.ziphave解决并证明修复后才能构建其他单元。

现在、时间是关键。

感谢您在这方面提供的任何帮助。

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    PL 尽快删除.zip 文件

    它破坏了很多东西。

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    尊敬的 Robin:

    我在您的附件文件中找不到波形。

    如果您不愿意在网站上共享这些文件,我们可以通过邮件进行讨论。

    AdamLin   

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    很抱歉耽误你的时间:真的很不幸…

    让我再次附加它们。

    不过、请记住、故障与电源线关断瞬态、即耦合在电路其余部分的功率级有关。

    e2e.ti.com/.../UC28782DEBUG_5F00_forum_5F00_WAVEFORMS.pdfe2e.ti.com/.../gnmr28782_5F00_ti_5F00_forum_5F00_sch.pdf

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    亚当:这里有一个不正确的沟通。

    关断故障的根本原因仍未解决、我们不理解下 GaN、控制器、隔离器和上 GaN 为何会发生故障。

    这是否来自交流/直流滤波器上的瞬态?
    PL 请参阅测试装置中使用的阻尼输入滤波器。

    感谢您对此问题的任何评论。

    R

    e2e.ti.com/.../EQ30TEST_5F00_FIXTURE.pdf

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    亚当:这里有一个不正确的沟通。

    关断故障的根本原因仍未解决、我们不理解下 GaN、控制器、隔离器和上 GaN 为何会发生故障。

    这是否来自交流/直流滤波器上的瞬态?
    PL 请参阅测试装置中使用的阻尼输入滤波器。

    感谢您对此问题的任何评论。

    R

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    尊敬的 Robin:

    我不确定 GaN 器件为何损坏、您可能可以与 GaN 供应商讨论。

    我假设额定功率 为65W/20V,并将其输入到计算器中,IC 参数设置与原理图不同。

    Rsense 应高达0.17欧姆,RDM 应重新设计。

    也许您可以使用计算器根据您的规格再次仔细检查参数。

    计算器链接: https://www.ti.com/lit/zip/sluraz0

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    可以了。

    但是、我们的设计与 TI 的评估套件完全相同。 相同的输入和相同的输出:20V @65W

    RDM、RTZ 等各种值的计算有点令人困惑、因为我们始终必须从一个响应更改为另一个响应。  

    现在 、我们是否可以坚持使用 TI 评估套件值? 除非使用 EPC2034作为 SR、并且不在次级侧使用 WT6636芯片、否则意味着主设备中的所有内容也会发生变化?

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    Adam:我们将汇编2块新电路板、其中的值是根据您在响应中附加的 XL 电子表格计算得出的。

    至于 NV6117的故障、它们不支持。 在将来的构建中、我们不再计划使用 NV 零件。

    供参考:在关键部件运行40W 时、我们确实监控了其温度、没有部件 温度上升超过5度。

    您认为我们应该在下部 GaN 开关上添加一个分流600V 二极管吗?

    除此之外、我们还想探讨半导体产品的哪些方面会出现崩溃? 该列表再次列出了 NV61167、UCC28782、ISO7710、Otpisduc器、TVS 均为耗尽模式 FET、上部 NV6117。

    所有这些都与交流开关关闭操作一致。

    然而、我们需要为客户提供高度可靠的模块。!

    我们希望为这一主张奠定基础。

    R

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    Robin、

    您无需在低侧 GaN 开关上添加600V 二极管,但需要仔细检查 GaN 输入引脚布局。

    GaN 输入布局布线必须尽可能短、并且不能与高 dv/dt 信号重叠、尤其是高侧 GaN。

    我还建议在 GaN 输入引脚处添加一些 RC 滤波器,它必须靠近 GaN。

    我们遇到了几个 GaN 损坏问题、即 GaN 因噪声而开启 、因此导致高低侧短路、然后损坏 GaN 和耗尽型 FET。

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    这是一种可能性。 我们具有与 TI 评估套件相同的电路和布局。 但也有一些差异。 可能足以造成问题。

    此外:我们将交流滤波器更改为直流开关部分、并使栅极上的 RC 滤波器具有更长的时间常数。

    Thnx,我们现在可以关闭这个流。  

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    亚当:

    现在、我们让整个电路正常工作。 感谢整个 TI 团队在各个方面为我们提供帮助。

    我们成功地拥有了一些独特的功能、从而为我们的产品提供独特且独特的功能。

    不过、我们还想加强一些方面。

    评估套件规定、从交流输入汲取的"空载"功率为45mW。

    评估电路未显示任何可用于在无负载的情况下启动电路的伪影。

    那么、在什么情况下、此类电路在空载时启动呢?

    我们非常感谢在这方面提供的任何帮助。

    R

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    供参考:空载启动也起作用。

    诀窍是具有最小的"漏电感"或添加一个小型外部 LR。

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    尊敬的 Robin:

    如果添加小型外部 LR,则需要在 LPM 至 ABM (第一个高侧打开)期间检查 BIN 引脚电压。

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    好的:Thnx。 让我检查一下。