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[参考译文] TLV62569:TLV62569铅和 IC 封装之间的氧化和不良焊接覆盖

Guru**** 2510095 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1042616/tlv62569-tlv62569-oxidation-and-poor-solder-coverage-between-lead-and-ic-package

器件型号:TLV62569

大家好、客户在铅和 IC 封装之间观察到氧化后、进行了浸焊和焊料测试。

此处是氧化图片的图示、这些器件具有相当新的直流2122。 这似乎不是粗糙的引线框 :https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/718449/faq-why-do-the-leadframes-look-strongly-oxidized-or-corroded 、如果我错了、请纠正我的错误。  

下面是 Dip & Look 的图片。 红色圆圈区域显示焊锡膏覆盖范围较差;这也是确定可焊性的区域。  

问题在于、引线和 IC 封装区域中缺少焊接覆盖的情况对电路板性能有多严重的影响。  

是否有必要去除引线的锡涂层并重新镀锡引线表面、以消除氧化并完全覆盖引线?

请提供建议。  

谢谢、

米兰达

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Miranda、

    一般而言、这一未焊接区域不应成为问题、因为它靠近 IC 注塑件、该注塑件可将焊接推向引线的外侧(如果引线正确连接到电路板、则一切都应正常)。 我将与相关人员核实、以确认这一点、之后我将通知您。

    此致、

    法赫恩

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    您好、Miranda、

    是的、正确的做法是它没有粗糙的引线框、而关于第二个问题、IC 封装和引线之间的未焊接区域不应导致任何可靠性问题。 您突出显示的区域没有 Sn 镀层、CU 表面暴露、这些突出显示的区域由于引线上可能存在模具毛边而未镀层。

    如果您有其他问题、请随时提问。

    谢谢、此致、

    法赫恩

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    您好、Farheen、感谢您的观看。 我想我得到了你解释的要点。

    同时、我还有几个问题、可能更容易在电子邮件中离线阐述。 可以给我发送电子邮件吗? 在电子邮件中使用多张图片进行解释要容易一些。  

    请告诉我。

    谢谢、

    米兰达

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    您好、Miranda、

    是的、确保您可以向我发送电子邮件。  

    谢谢、此致、

    法赫恩