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器件型号：UCC21540 尊敬的技术支持：
您好！ 我们使用的是 TI 的 UCC21540器件、但在应用期间有一些问题。 现在、我想咨询技术支持、希望能得到您的帮助。
℃中的图2是 CH2的 INA/B 测试波形与 GND 测试波形、以及 CH4的 OUTA/B 测试波形。在测试过程中、当我们处于60 μ s 的高温时、初级侧和次级侧的波形可能会重叠、 但当℃温度上升到70 ̊ C 时、波形开始出现非重合现象、并且存在占空比损耗问题。 因此，我想问，这种现象是由什么引起的？ 是否有任何合理的解决方案？ 感谢您的帮助！
注意：CH2是 INA/B 到 GND 的测试波形、CH4是 OUTA/B 的测试波形 有关屏幕截图、您可以检查附件。
