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器件型号：UCC21540 大家好、
我们收到了客户的此项询问、
我们使用的是 TI 的 UCC21540器件、但在应用期间有一些问题。 现在、我想咨询技术支持、希望能得到您的帮助。 ℃中的图2是 CH2的 INA/B 测试波形与 GND 测试波形、以及 CH4的 OUTA/B 测试波形。在测试过程中、当我们处于60 μ s 的高温时、初级侧和次级侧的波形可能会重叠、 但当℃温度上升到70 ̊ C 时、波形开始出现非重合现象、并且存在占空比损耗问题。 因此、我想问一下导致这种现象的原因是什么？是否有任何合理的解决方案？
注意：CH2是 INA/B 到 GND 的测试波形、CH4是 OUTA/B 的测试波形
感谢您的支持！
此致、
Danilo
