您好!
我的客户使用 LM4040C30I 作为 ADC 基准。
他们发现、当温度发生变化时、他们的 ADC 数字化代码会使用相同的模拟输入进行变化。
因此、他们想知道温度从大约0°C 变为50°C 时、VZ 变化最差的情况是什么。
在中
6.12 LM40C30I、LM40D30I 电气特性
在整个温度范围内、我们只有 Iz=1mA 时的反向击穿电压最大值的平均温度系数、但我们不在该额定电流下工作、例如、电路中的 Iz 为5mA。
那么、我如何计算 VZ 随温度变化的最大变化?
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您好!
我的客户使用 LM4040C30I 作为 ADC 基准。
他们发现、当温度发生变化时、他们的 ADC 数字化代码会使用相同的模拟输入进行变化。
因此、他们想知道温度从大约0°C 变为50°C 时、VZ 变化最差的情况是什么。
在中
6.12 LM40C30I、LM40D30I 电气特性
在整个温度范围内、我们只有 Iz=1mA 时的反向击穿电压最大值的平均温度系数、但我们不在该额定电流下工作、例如、电路中的 Iz 为5mA。
那么、我如何计算 VZ 随温度变化的最大变化?
您好 Howard、
感谢您的耐心等待。
在表6.5中、查看 "工作电流变化时的反向击穿电压变化"参数、如下所示:

如果 IR > 1mA、则在整个温度范围内使用底部值(8mV);如果 IR < 1mA、则使用顶部值(1mV)。 将该值与6.12中的值进行比较(对于您的情况、该值为150ppm/C)。
对于在5mA 时为2.5V 的情况、最终结果为(150ppm/C)*(2.5V)+ 8mV = 187.5uV/C + 8mV、这是最坏情况下温度系数在 与1mA 不同的 IR 下的结果。 请告诉我这 是否能帮助您。
Tony