主题中讨论的其他器件： MSP430F5359、 BQSTUDIO、 EV2400
我们构建了一个包含 BQ27510-G3电池电量监测计(由 MSP430F5359微处理器访问)的电路板。
对于此电路板，我们设计了一个在模块上的三个微处理器上执行的“电路板测试”程序，并基本上执行所有关键模块功能。 I²C、它使用电池电量监测计来执行一些简单的操作、从而证明分流电阻器的基本功能、能力和正确连接等
过去、我们一直能够在对电池电量监测计芯片进行编程之前运行此电路板测试。 由于我们使用0.02Ω Ω 电流分流电阻器、而不是监测计的预期默认值0.01Ω Ω、因此我们在测试中写入了电流读数的耐受值、该值是电路板电气设计所暗示的电流读数的两倍；没有问题； 我们可能已经运行了100个这些电路板、但测试中的电池电量监测计部分未导致任何故障。
但我们刚刚收到了一批具有电池电量监测计日期代码“051C”的电路板。 这些电路板中的许多电路板间歇性失效我们的电路板测试声称电池电量监测计的 INST_CUR (瞬时电流)读数过低。 虽然我们的预期读数(考虑到“错误”分流电阻器)大约为60-70mA，但监测计会间歇性地报告低得多的读数，范围低至仅5mA。 相比之下、AVG_CUR (平均电流)读数始终几乎是实际平均电流两倍的标称预期值。
当我们使用常用的数据闪存编程对这些电池电量监测计进行编程时、间歇性问题就会消失。 这让我们感到惊讶、因为我们不知道编程的任何方面会影响电流测量的工作方式、从而产生这些间歇性的、看似依赖于时间的影响。
我们使用 BQStudio 来分析这些新测量仪表的数据闪存和指令闪存存储器，并且看不到旧得多的测量仪表(例如，日期代码“66ZH”和“99TD”)与这些新的测量仪表之间有什么明显的区别。 指令闪存存储器区域的内容看起来完全一样；数据闪存存储器区域的内容看起来只有单元配置文件区域和“CC 偏移”值之间的差异。
(假设我们已正确证明电池电量监测计固件相同、)电池电量监测计芯片中是否有任何变化可以解释这一点？ 您有什么提示告诉我们发生了什么情况吗？ 如何进行电流测量是否存在子关联？ (请参阅下面的说明。)
我们可以修改测试程序、以便在测试之前始终对电池电量监测计进行编程、但如果可以避免、我们不会这样做。
Atlant
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仅供参考，SLUUA97《具有 集成 LDO 的 bq27510-G3系统端 Impedance Track 电量监测计技术参考手册》介绍了瞬时电流，其主要内容如下：
2.18经皮电流()：0x22和0x23
此只读函数返回一个有符号整数值、该数值是流经的瞬时电流
感应电阻器。 转换时间为125ms。 它每秒更新一次。 单位为 mA。
似乎转换太慢、无法查看可能由以下原因引起的任何影响： 我们使用开关模式电压稳压器将锂离子电源电压降至2.5V 利用率电压、但我们仍乐于建议在何处查找可能是在监测电池电量监测计电流测量中起作用的东西。
