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您好!
我使用 的是具有 Bq76952 IC 的 STM32L431RC 微控制 器、并尝试通过将 Mfg 状态初始化寄存器中的[FET_EN]位写入0x50来在测试模式下控制 MOSFET。 使用测试代码
void AFE_ManufacturingStatus (){
TX_4Byte[0]= 0x43;TX_4Byte[1]= 0x93;TX_4Byte[2]= 0x50;TX_4Byte[3]= 0x00;
I2C_WriteReg (0x3E、TX_4Byte、4);
TX_2Byte[0]=校验和(TX_4Byte、4);TX_2Byte[1]= 0x06;//校验和和长度
I2C_WriteReg (0x60、TX_2Byte、2);
}
并使用测试代码在 FET 选项中启用 sllep_CHG 位
void AFE_FETOptions(){
TX_3Byte[0]= 0x08;TX_3Byte[1]= 0x93;TX_3Byte[2]= 0x1F;
I2C_WriteReg (0x3E、TX_3Byte、3);
TX_2Byte[0]=校验和(TX_3Byte、3);TX_2Byte[1]= 0x05;
I2C_WriteReg (0x60、TX_2Byte、2);
}
提供 FET_CONTROL (0x00)后、预放电、充电和放电 MOSFET 会导通、当它单步执行时、预放电 MOSFET 会关断。 当在没有 CHARGE_PUMP 的情况下打开充电和放电 MOSFET 时、我还将使用该函数手动打开 CHARGE_PUMP。
void charge pump(){
TX_3Byte[0]= 0x09;TX_3Byte[1]= 0x93;TX_3Byte[2]= 0x01;
I2C_WriteReg (0x3E、TX_3Byte、3);
delayUS(1000);
TX_2Byte[0]=校验和(TX_3Byte、3);TX_2Byte[1]= 0x05;
I2C_WriteReg (0x60、TX_2Byte、2);
}
- 我是否需要考虑其他配置? 或者、我编写的代码是否需要修改?
- 在没有测试模式的情况下、启用所有具有电荷泵的 MOSFET 需要满足哪些条件? 而默认条件也是如此设置。
- 如果我配置任何额外的东西、使 MOSFET 通过 CHARGE_PUMP 在正常模式下打开 、以及为什么前置 MOSFET 关闭
2) 2) 我还在使用 BQ7695202 IC、如果我无法使用与 BQ76952相同的代码执行任何操作、我需要进行哪些更改
请帮帮我。
谢谢、此致、
罗希思西