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[参考译文] 高温下 TLV431-Q1的输出故障率分析

Guru**** 1831610 points
Other Parts Discussed in Thread: TLV431B-Q1, TLV431B, TLV431
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/971284/output-failure-rate-analysis-for-tlv431-q1-on-high-temperature

主题中讨论的其他器件:TLV431B-Q1TLV431BTLV431
您好、专家、
我是来自中国 MM 的 FAE。 在此客户中使用了 TL431B-Q1。 客户方面存在故障案例。 请帮帮我。
最好能给我发电子邮件。 谢谢。
 
客户遵循本指南、请参阅原理图:
Vin =3.3V、Vout =1.24V;CL=100nF、
输出故障率:2%(当环境温度= 90C 时、每1000个输出的结果为19个)
当客户在终端客户端测试此器件时、他们发现、当 TL431B-Q1上的环境温度上升至90时、输出不稳定、以下是我从客户端获得的输出:

℃温度增加至90 ̊ C 时、TLV431B-Q1的输出

以下是客户执行的操作和测试:
将输出电容更改为1nF、当环境温度上升至90C 时、TLV431B-Q1输出将保持稳定。
问题1:此电容器变化 t0 1nF、此变化是否存在风险?

否则、对于数据表版本、客户还有其他问题、
2008年数据表(左图)和2017年数据表(右图)
左图是2008年数据表中 tlv431b 的稳定性、2017年数据表中删除了该值、并替换为右图。 从左图中可以看出、Cl = 100nF 完全稳定、但右图中的相位裕度只有几度。
 
问题2:在规范的两个版本中、CL 和稳定性之间的关系发生了重要变化。 原因是什么?

 

此致

郭松珍

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    您好、Songzhen、

    TLV431的 B 级应使用最新数据表中的图形、如图19。

    问题1. 100nF 是此变体中最不稳定的区域、我强烈建议切换到更大的值。 图中显示了 TLV431在25°C 下的稳定性、具有0度相位裕度。 温度会使器件变得更加不稳定、这正是您所遇到的情况。

    问题2. 该图从旧数据表更新为新数据表、以更好地反映器件性能。 旧图未显示器件在0.1uF 时的不稳定程度、因为 TLV431稳定性因器件而异。 新图较为保守、但显示出远离100nF。

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    您好、Marcoo、

    非常感谢您的反馈。

    对于 Q1、为了改善相补角、我们可以切换到更大的 CL、但会减慢反馈响应时间;返回图19时、切换到更低的电容器时、也可以提高相补角。 您能就此发表评论吗? 谢谢。

    否则、数据表中有一个示例、情形类似于客户的要求:VIN =3.3V、Vout =1.24V;建议使用设计参数、CL 为100nF。 您能就此发表评论吗? 因为他们遵循此设计、所以他们在电路板中使用100nF。 谢谢。

     

    此致

    郭松珍

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    您好、Songzhen、

    这是一个好问题。 我不确定是谁在该示例中提出了该表。 我将请求更改它。 如果不能使用较大的电容器、则使用较小的电容器。

    根据原始文章的原理图、TLV431B 偏置在10mA 左右、因此您可以使用1-10nF 左右的较低值。 您能否测试这些值并查看您是否仍然看到问题?

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    您好、Marcoo、

    感谢您的反馈。

    我与客户确认了这一点。 当 CL 更改为1nF 时。 问题消失了。 谢谢。

     

    此致

    郭松珍