[参考译文] TPS7A26：ESR、稳定性和 LDO 稳压器

大家好、Sveinn、

较新的 LDO 架构控制环路被设计成 COUT 的较低 ESR 不会使函数的零点发生足够的偏移、从而使相位裕度变得不稳定。 控制环路设置了内部极点和零点、以控制稳定性、并允许使用远低于 ESR 的电容器、这些电容器在旧设计中尚不常见。 如今、陶瓷电容器最为普遍、具有极低的 ESR、因此最新器件的设计旨在实现稳定、在 COUT 无源器件上具有极小的 ESR 甚至没有 ESR。

也就是说、早期具有高 ESR 的较大尺寸电容器是行业标准、因此 LDO 的设计采用了输出电容器的较低频率零点、以稳定环路。 较新的陶瓷型电容器将零点推至过高的频率、以使回路稳定、因此设计现在必须具有内部稳定功能(即其自身的零点)、这使得新架构即使 COUT 上的 ESR 低至0欧姆、也能保持稳定。

这两个转折点是由输出电容器引起的。 该部分超出 LDO 的带宽、主要由寄生效应和 COUT 决定。 高达~200k 的下斜率是 LDO 带宽、它在该图的响应曲线上占主导地位、但在该频率附近、COUT 阻抗曲线的容性部分开始成为主导。 这会导致 PSRR 提高、直到达到电容器的谐振频率。 这是您在图中圈出的第二个峰值。 在该区域之后、COUT 的阻抗由电容器的电感决定、该电感一旦因零而导致下降。  

此致、

John