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器件型号：BQ40Z80 在关于 P85的 TRM 第12.1节中、它说：
在串联电路配置中、如果 CHG FET 关断且 DSG FET 导通、则为放电电流
检测到大于充电电流阈值时、CHG FET 会快速导通以保护
放电电流流经 CHG FET 体二极管。 如果 FET 是串联配置的、
选择 FET 选项[parally_FET ]= 0。
当 FET_EN = 0且放电 FET 在测试模式下接通时、这种行为是否在测试模式下发生？或者仅当 FET_EN = 1时、此行为才可用？
