[参考译文] BQ34110：密封命令不起作用

您好、Aki、

我在 TRM 中找不到、它说在校准模式下必须写入安全密钥。 您能否验证密钥写入是否正确？

您好、Aki、

我们建议在组装和测试电池后对其进行密封。 在连接电池之前、切勿进行密封。

当配置不正确时、您可能会通过密封仪表来将仪表编织起来

您好、Shirish、

您推荐、但为什么在技术参考手册或数据表中没有提及这一点？ 此外、这两个都没有提到在执行 unseal 命令之前需要进行通信时的4秒延迟(https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1106900/faq-how-to-enter-unseal-or-full-access-modes-after-sealing-the-gauge)。 支持论坛不能是文档的扩展、但这就是它与此芯片的关系。 这不是 TI 的低质量文档、配置工具和/或支持导致我们工作数月过剩的唯一芯片。 我对 TI 感到非常沮丧。

您还没有回答我的问题！ 问题不在于安全密钥、而在于密封命令...

您好、Aki、

当监测计的电压读数高于"闪存更新正常"电压时、密封命令应随时起作用。 如果不起作用、则最可能的原因是监测计读取的电压低于"闪存更新正常"电压。 完全组装的电池中从未出现过这种情况。 请连接/应用正确的输入以测试监测计的功能、以避免此类问题。

TRM 文档包含所有信息。 有关4秒延迟、请参阅4.3节密封/解封数据闪存访问。 我知道有太多的内容需要阅读、因此很容易错过。

您好、Shirish、

当 VEN 引脚被用于激活外部分压器以读取电池电压时、需要一种方法来配置芯片而不测量(正确)电池电压。 TRM 在第4章的前言中说、在校准模式下、这可以完成："只有在 Voltage ()≥Flash Update OK Voltage 时才可以更新数据闪存(DF)、除非器件处于校准模式。" 合理的结论是、由于 SEAL 命令向闪存写入某些内容、因此电池电压/测量存在错误。 但这并不能解释为什么密封适用于其他配置正确但仍然不存在电池电压的芯片。

无论如何、我认为我更改了程序、以便在密封期间存在电池电压。

TRM 文档在第4.3节中指出："两个代码必须在4秒内相互写入才能成功。" 在编写第一个代码之前没有提到延迟。

在我链接的论坛帖子中："为了成功允许监测计从密封->未密封或未密封->完全访问、在发送第一条命令之前必须等待4秒。"

请确认是否需要4秒延迟。 如果不需要、论坛帖子不正确。 如果需要、TRM 不完整。