[参考译文] LM3668：过流情况

尊敬的 Arun：

这是面向客户的新设计。 不建议在新设计中使用此器件。 客户为何选择此 IC。

您好、Jasper、

这不是一个新设计。 这用于支持现有设计。

谢谢

尊敬的 Arun：

根据我的理解、该器件仅在下一个周期关闭内部 MOSFET、而不是完全关断 IC。

客户是否在多个系统板中观察到问题？ 是否在空载或重载条件下发现问题？

您好、Jasper、

请查看客户的观察结果。 它似乎不仅仅是一个周期。

请在下面找到有关该问题以及我们要实现的目标的更多详细信息。

1. 此 LM3668问题在从现场返回的电池供电单元中已确定，并带有描述“无法打开”的说明。
2. 在测试这些器件时、发现 LM3668具有适当的 PVIN 和 VDD 以及 EN。 但是、输出 VOUT 保持0V、因此单元无法正常工作。
3. 如果此时 PVIN 和 VDD 关闭、然后再打开、则 Vcc 按预期将3.3V 电压变为正常状态、并且从那时起、这些单元将完全正常工作。
4. 但是 、一旦这些单元开始工作、就无法再重现故障、因此很难通过实验确定引发此故障的条件。
5. 似乎唯一可以解释该故障的方法是限制电流电路对电涌的响应。 从数据表中的段落可以看出，“内部电流限制比较器将在1.85A 的典型开关峰值电流限制下禁用功率器件”。 “‘D电源设备”意味着比跳过一个周期更持久的东西。
6. LM3668限流保护电路的参数缺少详细信息、当前阻碍了此故障机制的识别尝试、从而阻碍了找到合适解决方案的可能性。

谢谢

尊敬的 Arun：

您能否在实验中重复此类行为？ 例如、向输出端添加大电流以触发电流限制。

您好、Jasper、

客户很难重现此问题、因为他们还有其他难以禁用的保护措施。

有用的是您的实验中来自 TI 的实际数据、以便客户能够相应地设计他们的电路。

1. 这些单元具有快速复位控制器、可在 Vcc 降至其标称值以下的一小部分时(由于外部测试电阻产生的电流较大)将单元复位、 当复位变为活动状态时、单元消耗的 Vcc 电流会显著下降、从而降低总 Vcc 电流。 如果 LM3668电流限制电路慢于复位、则由于外部测试电阻器的原因、它基本上只能感测 Vcc 电流。 因此，从这个角度来看，对外部测试电阻器的要求是具有足够低的电阻值，以便自己激活电流限制电路，而该单元的电路不会产生很大的影响。

1. 但是，如果外部电阻器本身消耗的电流超过电流限制阈值，Vcc 可能会显著下降，然后触发另一个保护电路，即“短路保护”。  后者假定使用低 Vcc 电压阈值来识别短路、并触发临时和轻微的响应、即将 Vcc 电流限制在典型电流限制值的一半、直到短路被消除。 因此、外部测试电阻器的值可能需要足够高的值才能不激活短路保护。

1. 考虑到相互冲突的要求1. 和2. 上面看来、为了能够证明假定的故障机制、可能需要微调外部测试电阻器、但到目前为止尚未这样做。

1. 此外、在这个芯片的相关功能不够详细的情况下、时序和其他实际问题使得这个故障机制的试验证明非常困难。 如果能更精确地描述上述芯片功能、即过流限制和短路保护、我们将不胜感激。

谢谢

您好、Jasper、

让我检查一下。 您能解释一下您用于生成关断的负载值吗？

此外、您的关断路径是怎样的？

谢谢

尊敬的 Arun：

我可以增加输出电流、直到器件触发电流、并检查器件是否在负载移除后关闭而不重新启动。

您好、Jasper、

您在哪个电流值触发器件？ 并且、它是否在负载被移除后自动重新启动、或者是否需要执行任何操作？

谢谢

尊敬的 Arun：

遗憾的是、不建议使用该器件的 EVM。 客户是否有可能移除外部器件并仅评估系统板中 LM3668的行为？