主题中讨论的其他器件：BQSTUDIO、
工具/软件：Code Composer Studio
谢谢 Andy！
添加一些更多信息
再添加一个信息、即可重现此故障。 生产步骤如下所示：
‘我清除了 FCNSP194400003 (Gemini SN ACPV8192800336)中安装的 Gemini 上的 PF、然后将机箱发送回测试。 此机箱中的这两个 SP 之前都运行过散热脚本、因此两个 Gemini 都已运行1.20 FW。 在本例中、Gemini 上没有强制加载、因此两个 Gemini 仍处于1.20 FW。 检查的第一个 BBU 状态通过。 此时无锁存 PF (AMBEINT 温度)。
然后、处理室变冷(5C)。 冷浸泡后的第一件事是冷电源循环。 在引导至诊断程序并执行 SEL dunmp 之后、此机箱中的两个 SP 此时都发生电池内部故障。 然后、在检查蓄电池状态期间、两个都显示锁存的 PF。
室的冷态为5C。 设置温度后、将有25分钟的空闲时间。 然后、当下一个测试步骤开始时、会出现下电上电和 SEL 转储。 这是我们在 SEL 中看到内部故障的地方。
TI/BQ 永久故障状态故障
C 充电 FET 故障”
我还附上了 FG 的日志。 在执行测试之前、我们清除了所有故障标志、然后执行了以下测试。 最终找到充电 FET 故障和此日志。 它包括 FG 的"生命周期数据"和其他信息。
e2e.ti.com/.../ACPV8192800309_5F00_PF_5F00_latched_5F00_second_5F00_time.txt
我认为它可能与温度或循环通电相关。
我遇到一个充电 FET 永久故障。此故障发生在更新 FG FW 后。 没有其他 PF。 在我们的应用中、CFET：关断阈值为5mA、CFET：关断延迟持续时间为5s。 我注意到这一失败将在何时出现
CFET：关断延迟持续时间的 CHGR 关断和 CHG FET 关断与电流()连续≥CFET：关断阈值。
1、什么是 CHGR 关闭？ 此 IC 如何识别此状态？ 哪个标志或其他电感器？
2、该 IC 如何识别 CHG FET 关闭？ 哪个标志或操作？
3、在更新 FG FW 或更新 FG FW 后、CHGFET、DSGFET、充电器 FG 的行为如何？
4、为什么 CHGR 关闭？ 我认为更新是一个正常的过程。
5、为什么 CHG 在此正常更新过程中关闭？
6、您能否帮助分析此场景中为什么有一个 PF？
7、为什么默认 CFET：OFF 阈值 为5mA？
谢谢！
Emma W
