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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/871350/bq76940-bq76940-failure-while-short-circuit-test
您好！ 我们开发了具有 BQ76940和 ST 微控制器的 BMS。 问题在于、当我们进行短路测试时、AFE 发生故障。 您对此有什么意见吗？
尊敬的 Akilan：
您没有提到 BQ76940发生故障的方式。 原理图中有2个常见问题：
这两种情况都会导致电源滤波电容器在短路期间放电、从而导致器件在 SCD 计时器到期之前失去 VC5X 上的电源。 FET 未按预期关闭。 请参阅 http://www.ti.com/lit/pdf/slua749 第3节图3和相关文本。 使用较短的 SCD 延迟时间还有助于在 SCD 期间保持器件的工作电压。 将 CF、RF 和 RC 的建议值与数据表进行比较。 在短路事件期间检查 VC5X、以查看其是否仍然高于 VSHUT、以查看这是否是问题所在。
另一个需要注意的方面是 MCU 中的恢复代码。 确保 MCU 的恢复速度不会太快、电压才能恢复正常、FET 也不会冷却。
如果这不能帮助解决问题、请发布有关观察结果和故障的更多说明。
今年仍将完成“瞬态”主题
