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主题中讨论的其他器件：BQ77915ART 编号：BQ77915
各位专家、您好！
我的客户在 BQ77915 PP 测试期间遇到了一个紧急问题、需要一些建议来帮助解决此问题。 原理图如附件所示。 这是15节串联电池场景。 3个 BQ77915堆栈、如其所述、它们使用一个仪器来模拟电池的 UV、以测试每个电池、[低至2.9V 以触发 UV 并从3.3V 恢复]、 6~15 Ω 电池 正常、但在测试1~5时、DSG MOSFET 无法从该 UV 条件中恢复。
它们尝试将 LD 引脚(14引脚)的电阻增加到10M、它 从这个问题中恢复、但这使得负载移除检测不敏感。
请建议在 UV 条件消失后如何使 DSG FET 保持关断。 谢谢。 此外、如果我们有示例展示如何堆叠3个 BQ77915、请提出建议？ 谢谢。
