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器件型号:TLV733P-Q1 您好!
我正在考虑使用 TLV733PQDRVRQ1器件。
(问题)
数据表电气特性中描述的过流保护(ILIM、IO)和热关断(TSD)是否已100%测试?
还是采样检查?
此致、
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您好!
我正在考虑使用 TLV733PQDRVRQ1器件。
(问题)
数据表电气特性中描述的过流保护(ILIM、IO)和热关断(TSD)是否已100%测试?
还是采样检查?
此致、
您好 Kaji、
IOS (短路电流限制)是使用相同的电流限制电路实现的、该电路在生产过程中在所有器件上都经过了测试。
由于生产测试设置和环境未针对这种类型的测试进行优化、因此在生产期间不会测试热关断。 通过 IC 运行大功率耗散以生成热关断似乎很简单、但这可能会损坏 IC、因为您必须拉高电流、然后当热关断开始时、 这将导致电感电压尖峰、从而可能损坏 IC、因为测试环境的电感比实际应用(长迹线、电缆、接触器等)高得多。 话虽如此、热关断是一个相当简单的电路、我们在任何 LDO 中都未发现任何故障。
我们正在使用测试模式评估未来在新 LDO 上实施此类测试的方法、但对于已发布的器件、这不是一个选项。