主题中讨论的其他器件： UC3710、 UC3845、 UC3825
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在这里有一个棘手的问题。 我在高功率降压2kW 中使用 UC3825A/B、以80Khz @50% TD 运行、输入电压为400-450Vdc。 电感器是一个大型 KoolMu 内核、L =400uH、特意具有低 I RIPPLE %、在13.5A 负载150V 下表现出小电感摆幅、并具有足够的功率裕度。 在该功率级别下、效率约为98-99%、因此不存在不稳定性或与深度开关相关的损耗。 但是、任何使用带有高电压电源栅极变压器的高侧驱动器的人都将会意识到：-请继续阅读。
问题是在输入总线上已经出现400V 时启动。 漏极路径开关 MOS 中传统模式的电流感应变压器。 该n´t 非常适合用于感测窄脉冲宽度的启动。 也许、在电路复杂性增加的情况下、使用不同的内核低性能材料影响反激式电流感应的双电路会更好。 满 Bmax 的启动是一种非常糟糕的模式、因此不会意外地丢失额定电流远高于电路电流的某些 MOSFET。 dv/dt 加上针头米勒效应使开关 MOS 和驱动器 UC3710过度拉紧至自动关断状态、使该芯片成为运行可靠性的不理想选择。 另一种类型已采购。
问题：-根据应用手册 U-128和数据表 SLUS334E 的理解、LEB 编程将在启动时消隐最小脉冲宽度、直到 LEB 电容值产生的死区宽度。 如果我使用带电容器滤波器的传统斜坡、即引脚7上的斜坡将比软启动消隐至最小占空比脉冲更容易实现和检测到、该脉冲由 LEB 决定。 使用 LEB 意味着以脉宽的快照软启动会破坏启动。 我认为这是对的吗？？ 我看到实际软启动性能 LEB 与峰值 I lim 之间存在冲突。 我的应用中的一个非常软的启动是 No1优先级、因此是在一个小延迟 IC 中的选择。 LIM 可能会通过打嗝来使起始脉冲情况变得更糟。
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Richy
