[参考译文] UCC21750-Q1：测量感应1000Vdc 的精度

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器件型号：UCC21750-Q1
主题中讨论的其他器件：UCC21750

大家好、

想要在 UCC21750中使用 AIN 测量 Vdc = 1000V、但我对占空比随温度的变化有一些疑问。数据表中提到占空比可能会变化15% Vin = 4.5V，在 SLUA988中显示 AIN 的绝对误差为5%精度，校准后我们可以实现+/-1%。占空比误差是常数、或者它随温度变化。如果它是恒定的、那么我们可以在 T = 25度的单点校准它

6 年多前

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2782615 points

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您好 Naveen、

每个空压下的数据表范围反映了工艺和温度的变化。当 AIN 电压低于2.5V 时、工艺和温度范围内的 APWM 误差较低。 SLUA988显示 AIN 电压经过调节、因此它也处于该电压范围内、从而实现良好的性能。占空比误差随温度变化不大、但也不显著。在最高温度下、给定电压的占空比最高。室温下的单点校准对于处理过程变化非常重要、如果范围很小、则温度范围内的误差会很小。

此致、

Audrey

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2782615 points

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您好、Audrey、

如果我们设计 AIN 电压低于2.5V、则根据数据表、占空比误差为+/-3%。对于单点校准、如果我可以校准过程误差、则剩余的误差在整个温度范围内的百分比将是多少。我在数据表中的任何位置都找不到这一点、但有人说我们通过校准实现了+/-1%。那么、我们是否可以考虑1%是由温度引起的。

0 admin 6 年多前

TI__Guru**** 2782615 points

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您好 Naveen、

正如您指出的、数据表中给出的总变化涵盖了工艺和温度、因为我们在生产测试中没有将温度与工艺分开。该范围得到保证、在2.5V 时 APWM 精度将在+/-3%以内。当您校准过程变化时、它将更小。我无法保证温度变化、因为我们不会在数千个器件上对此进行测试、也不会在生产测试中指定。但是、根据30个 AIN 为2.5V 的基准测试数据、我可以说、我们观察到温度变化小于+/-1%。正如我提到过的、它可以更低、但功耗小于2.5V。这不能保证、因为数据表中未指定、并且未在所有生产单元中进行测试、但基于此、我可以说您的假设可能是准确的。

此致、

Audrey

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