[参考译文] LM46000-Q1：评估满足生命要求的物料

尊敬的 Kevin：

我将与负责此事的工程师交谈、并向您提供更多信息。

请等待1-2个工作日的回复、谢谢。

此致、

Harrison Overrurf

尊敬的 Kevin：

很抱歉、我的回复延迟、针对 HTOL 的 AEC-Q100测试通常为1000小时@ 125C 或等效的测试、这正是这些器件的认证标准。

对于这些情况、建议汽车半导体应用 ZVEI 稳健性验证流程、以下链接对此进行了详细介绍。 第9.1.2节“组件级任务剖面验证”要求将内在可靠性知识(JEP122)应用于任务剖面。 这将确定系统中要投影的组件是否处于其使用寿命内，而不是处于磨损阶段。 查看 ZVEI 稳健性验证方法的另一种方法是、它应用在 AEC Q100 D 组中获得的信息。这比阿累尼乌斯模型更科学。

我可以为 LM46000QPWPRQ1运行 ZVEI 稳健性 vaidion 方法评估、但我需要启动任务配置文件才能执行此操作。

https://www.zvei.org/fileadmin/user_upload/Presse_und_Medien/Publikationen/2015/mai/Handbook_for_Robustness_Validation_of_Semiconductor_Devices_in_Automotive_Applications__3rd_edition_/Robustness-Validation-Semiconductor-2015.pdf

此致、

Harrison Overrurf