您好!
我想了解在器件/电路板断电时向 HO/HS/LO 引脚施加测试电压是否存在任何即时和/或长期的可靠性问题。
原因:我想对 FET 的栅极施加测试电压、以确保 FET 正常工作。
这是可能的、有任何限制吗?
提前感谢您、
Iain
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您好!
我想了解在器件/电路板断电时向 HO/HS/LO 引脚施加测试电压是否存在任何即时和/或长期的可靠性问题。
原因:我想对 FET 的栅极施加测试电压、以确保 FET 正常工作。
这是可能的、有任何限制吗?
提前感谢您、
Iain
Lain、您好!
根据您要应用的电压、可能会对哪些引脚存在问题。 如果您向 LO 引脚施加电压、则有一条通过驱动器内部 FET (体二极管)的路径、该路径将向 VDD 引脚提供电流。 当 VDD 引脚为~1.5V 时、驱动器将打开驱动器输出下拉电阻、并尝试将 LO 电压钳位为低电平。 HO 引脚在将电流拉入 HB 引脚时具有类似的行为。 如果向驱动器输出施加直流电压、驱动器将尝试将输出钳制为低电平、并且可能会产生过多的功率耗散。
此致、
Lain、您好!
在向驱动器输出施加15V 电压时、VDD 将由 LO 偏置、HB-HS 将由 HO 偏置。 当 VDD 或 HB ~1.5至2V 时、驱动器下拉器件将打开并钳制驱动器输出。 如果没有驱动器尝试钳制该电压、您就无法将该电压施加到驱动器输出上、因此您无法打开外部 MOSFET。
是否有任何原因无法提供 VDD 并打开驱动器输出以检查 MOSFET?
此致、