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您好!
我使用 TPS70912QDBVRQ1 IC 将18V 转换为1.2V 输出。 输出负载在最坏情况下为10mA。
我在板上执行 HALT 温度时。 我观察到输出电压随温度的升高而不断增加。 请澄清原因。
环境温度为93°C 时、输出电压上升至1.23VDC。
输出电容:10uF (C1210封装),0.1uF (陶瓷)
输入电容:10uF (C1210封装)、0.1uF (陶瓷)
谢谢
Ganapathi
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您好!
我使用 TPS70912QDBVRQ1 IC 将18V 转换为1.2V 输出。 输出负载在最坏情况下为10mA。
我在板上执行 HALT 温度时。 我观察到输出电压随温度的升高而不断增加。 请澄清原因。
环境温度为93°C 时、输出电压上升至1.23VDC。
输出电容:10uF (C1210封装),0.1uF (陶瓷)
输入电容:10uF (C1210封装)、0.1uF (陶瓷)
谢谢
Ganapathi
您好、 Ganapathi、
在整个温度范围内、TPS709的直流精度为+/-2%、而1.2上的2%为1.224V。 在环境温度为93C 的情况下、假设负载为10mA、LDO 耗散0.168W 的功率、这将导致结温上升0.168 x 210.9 = 35C;根据布局、实际温度范围可能高于/或低于估算的35C。
话虽如此、具有93C 环境温度的 TPS709的结温可能超过125C、并且输出精度可能接近或略高于2%。 同时、我不确定如何测量输出电压、也可能存在测量误差; 为了准确测量、我们需要有一条专用的感测线路、用于将右侧连接到 LDO 输出的 DUT、仪器的返回路径还需要与 DUT 接地的连接最短。
由于我们怀疑 LDO 由于建议结温高于125C 而略高于精度、因此您对该应用的主要关注是什么?
此致、
Jason Song
您好 Jason、
非常感谢您的快速回复。 我们将通过 ADC 测量该电压。 同意您的观点,一旦 Tj>12月125日,我们就不能保证***的操作。 此外、我观察 到 ADC 计数在温度升高时(从1.2V 上升到1.23V)不断增加。 通常、电压应随温度的升高而降低。 不确定是什么导致电压升高。
而且、我注意到、一旦环境温度移动>93°C、LDO 输出电压变为0。热关断限值为158°C。根据我们的应用、在此环境温度下、Tj 可约为130°C。 c 仅限。
希望知道 LDO 的这种行为随温度的升高而变化、因为其输出不稳定、并且会随环境温度的变化而不断变化。 下面是我使用的电路、VIN 为18V。
谢谢、此致
Ganapathi
你(们)好
非常感谢您的快速回复。 我们将通过 ADC 测量该电压。 同意您的观点,一旦 Tj>12月125日,我们就不能保证***的操作。 此外、我观察 到 ADC 计数在温度升高时(从1.2V 上升到1.23V)不断增加。 通常、电压应随温度的升高而降低。 不确定是什么导致电压升高。
LDO 通常情况并非如此,而较高温度下的输出可能会根据内部基准特性而升高或降低。 您还应在高温下使用 ADC 检查电压检测精度。
而且、我注意到、一旦环境温度移动>93°C、LDO 输出电压变为0。热关断限值为158°C。根据我们的应用、在此环境温度下、Tj 可约为130°C。 c 仅限。
您是否已使用 ADC 检查过这一点? 我会使用示波器进行仔细检查、即使器件进入热关断状态、温度下降后、器件也会再次开始调谐。 当器件进入且存在热关断时、输出电压也将上升和下降。 为了实现热关断保护、不会锁存输出。
希望知道 LDO 的这种行为随温度的升高而变化、因为其输出不稳定、并且会随环境温度的变化而不断变化。 下面是我使用的电路、VIN 为18V。
图7是在数量非常有限的单位下拍摄的,但我们可以看到输出往往较低。 我建议检查 ADC 如何对输出进行采样:有多少个采样? 有平均值吗? 采样的孔径时间是多少? 对已知良好的基准进行采样时、分辨率是多少?计数的可重复性如何?
此致、
Jason Song