[参考译文] UCC21750-Q1：未实现 DESAT 功能并导致 SIC FET 损毁

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请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

器件型号：UCC21750-Q1
主题中讨论的其他器件： UCC21750

大家好、

我的客户现在正在评估 UCC21750-Q1、以便在电机控制应用中驱动6个并行化 SiC FET (C3M0016120K)。虽然直流链路电压小于450V、但 DESAT 运行良好、但尽管直流链路电压高于500V、但 Vgs/VdS/Vdesat 会出现大量振荡波形。

请您就振荡的发生原因以及如何解决此问题发表意见吗？期待您的回复、谢谢。

此致

Benjamin

0 admin 5 年多前

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Benjamin、

我们正在检查数据、并将通过电子邮件与您联系。

同时、我将把这个线程标记为"已解析"

此致、

-Mamadou

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