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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/937796/ref5030-regarding-changed-spec-of-long-term-stability-spec-in-datasheet
您好的支持团队。
已向我的客户询问有关数据表中长期稳定性规格的更改规格。
VSSOP 封装的 REV_H 和 REV_I 之间长期稳定性差异的原因是什么？
此致、
千兆
您好、Higa、
它是改进的测试方法的组合、确保当前数据表反映了当前器件性能、因为修订版 H 数据来自原始特性。 这当前仅适用于 VSSOP。
你(们)好、Marcoo
感谢您的快速回复。
我还有一个问题。
测试方法改进是否仅适用于 VSSOP？ 这是否意味着其他封装由于采用相同的新测试方法而具有与以前相同的数据？
如果您能给我提供信息、我将不胜感激。
最好的服务
我们计划在 SOIC8中运行 REF50xx、以查看当前器件的功能。 遗憾的是、由于资源有限以及测试需要多长时间、我很快就不会更新 SOIC8的 LTD。 如果 VSSOP 进行了改进、我预计它至少会下降1/3-1/2。
感谢你的答复。
我知道。
