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[参考译文] TPS2662:检测启动时输出短路

Guru**** 2538950 points


请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/916929/tps2662-detection-of-start-up-with-short-circuit-on-output

器件型号:TPS2662

TPS26620如何确定启动时输出是否存在短路?  根据我对数据表的初始读数、我曾预期过两种行为中的一种-电流输出将达到 I_fastrip、FET 将立即关闭、或者电流将被限制为 T_cl 的 I_LIM、然后将发生故障情况。

我的系统有一些浪涌电流、我希望部件将电流限制为880mA、并且在 T_cl 的512mS 过期之前、输出电容器将充电。  但我看到、提供880mA 的时间仅为5-10ms (可能是0.022uF C_DVDT 设置的软启动时间)、然后 FET 关断。

这似乎与图42匹配、图42显示了 I_IN 在关闭自动重试延迟前几毫秒内打开。  但在本例中、我无法确定是什么导致 FET 关断。  电流限制为 I_lim、但对于 T_cl、我本来希望电流保持导通状态。  它可能是由于热过载而关闭的?  这是有道理的、但在部分中没有说明。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 David:

    感谢您的联系。

    正确。 在输出端启动至短路期间、器件以电流限制模式启动、并将输出电流限制为 I_lim 、直到器件在 T_cl 之前达到热关断状态。 如果有任何未回答的问题、请告诉我。

    此致、Rakesh

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    依赖热关断是"安全"的事情吗?  还是最终会降低并损坏部件?

    例如、在器件达到热关断状态后、我可以允许器件重试几次、直到输出最终充电。  这可能会损坏器件、还是内部热限制能够完全保护该器件?

    出于我不会在这里介绍的原因、我无法选择简单地降低电流或延长 dVdt 时间。

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    尊敬的 David:

    它不会影响或降低器件的性能、因为它仅在启动期间发生。 但是、如果输出端存在任何持续故障、则应查看系统中的温升、以避免对长期可靠性产生任何影响。  https://www.ti.com/lit/an/slvaed9/slvaed9.pdf 中讨论了更多内容

    此致、Rakesh