请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号：BQ77915 主题中讨论的其他器件： BQ76920、 BQ76930、 BQ76940
我想将 BQ77915用于我们的产品、作为内部电池保护。 从我们的工厂发货后、无法移除连接到 BQ77915的负载。
您能否告诉我如何禁用负载检测作为 UV、OCD 的恢复方法...
在我们的测试中、一旦发生一些故障并且 DSG FET 关闭、我们就无法开启系统。
我正在考虑2个想法。
1) 1)更改 R_LD、然后 VLD 保持在 VLDT 下
->如果发生 OCC 故障，是否无法恢复？ 如果我们假定由于 OCC 阈值(20A)远高于充电电流(1.5A)而不会发生 OCC，1)是有用的解决方案？
2) 2)移除 CHG FET 和 DSG FET。 将 CHG 引脚和 DSG 引脚连接到 MCU。
如果 MCU 检测到 BQ77915的故障状态、则 MCU 会降低系统电流或停止充电等
我在 E2E 中看到了其他问题、找到了 BQ7791504。 是否更适合用于我们的产品？
