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[参考译文] TPS53211:TPS53211的死区时间

Guru**** 2558250 points
Other Parts Discussed in Thread: TPS53211, TPS51518

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/910109/tps53211-dead-time-of-tps53211

器件型号:TPS53211
主题中讨论的其他器件: TPS51518

尊敬的 TI:

请帮助分享 TPS53211的死区时间规格。

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    您好!

    这是一个非常古老的部分。 我甚至无法在 TI.com 上找到 EVM。 它是一个控制器、而不是降压转换器。 我的理解是死区时间取决于控制器的拉电流和灌电流能力以及外部 MOSFET 的 CGS。 如果没有特定的外部 MOSFET、我们可能不知道实际死区时间。 如果您拥有 TPS53211和电路板、我建议您对所选的 MOSFET 进行一些测试。

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    您好!

    您是否定义了 TPS51518的最小死区时间? 死区时间的原因函数 由控制器触发、在此期间不会同时导通两个 H/L 侧 MOSFET。 我知道、有一些外部组件会影响时间长度。 请给我一个范围吗?

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    您好!

    我们正在尝试内部检查以查看是否有良好的数据备份、稍后将返回此处、tks!

    此致

    米洛

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    这位是 Peter James Miller、德州仪器高级应用和客户支持工程师、TPS53211控制器的应用主管。  TPS53211控制器采用自适应先断后合死区时间控制架构、可监控引脚上的 Vgs 电压(低侧 FET 的 LGATE 至 GND、高侧 FET 的 UGATE 至 PHASE)、从而控制两个 FET 之间的死区时间。  这使得控制器能够针对外部 FET 条件、栅极电容、温度变化等调整死区时间、同时在一个 FET 的关断和另一个 FET 的导通之间保持最小的时间。

    高侧到低侧死区时间从 UGATE 到相位下降到低于1V 到 LGATE 上升到高于 GND 开始的时间、 通常测量值为15ns、但可能高达30ns。

    低侧到高侧死区时间的测量范围为从 LGATE 到 GND 下降到低于1V 到 UGATE 上升到高于相位的开始、通常测量值为15ns、尽管它可能高达25ns。

    测量其他电压下的死区时间、例如90%下降至10%上升、延迟将产生更长的延迟、而这些延迟不表示体二极管导通或反交叉导通周期、并且受到 FET 栅极电荷和开关节点转换率等外部因素的严重影响。

    由于反交叉传导电路的工作原理是感测 UGATE 至相电压和 LGATE 至 GND 电压、因此添加串联栅极驱动电阻将缩短实际死区时间、因为 LGATE 和 UGATE 电压的转换速度比 FET 的实际栅极电压快。  当使用小电阻和中等栅极电荷 FET 时、这通常不是问题、但使用大栅极驱动电阻器和大栅极电荷 FET 会导致栅极电压显著延迟并强制直通。  由于较低 Rdson 低侧 FET 上通常使用较高的栅极电荷、因此它们在 UGATE 下降 LGATE 上升死区时间中最为常见。