主题中讨论的其他器件: BQ78350
大家好、我们在12芯片配置中使用了 BQ7694、并观察到了12芯片 ADC 测量上的异常行为、该行为未反映在外部模拟测量中。 在几个充电周期后、两个不同的电池和芯片上出现了此问题。
它似乎表现为40-50mV 压降、然后在压降之前返回测量值。 在再循环一会后、问题也会蔓延到电池9。 视频。
从外部电源断开电池后、"跳跃"仍然存在
e2e.ti.com/.../pxl_5F00_20221020_5F00_225851237.ts_5F00_2.mp4
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
大家好、我们在12芯片配置中使用了 BQ7694、并观察到了12芯片 ADC 测量上的异常行为、该行为未反映在外部模拟测量中。 在几个充电周期后、两个不同的电池和芯片上出现了此问题。
它似乎表现为40-50mV 压降、然后在压降之前返回测量值。 在再循环一会后、问题也会蔓延到电池9。 视频。
从外部电源断开电池后、"跳跃"仍然存在
e2e.ti.com/.../pxl_5F00_20221020_5F00_225851237.ts_5F00_2.mp4
在问题扩展到单元格9后:
e2e.ti.com/.../pxl_5F00_20221021_5F00_180131066.ts_5F00_2-_2800_1_2900_.mp4
您好!
我们今天做了更多的调查。 我们将通过 BQ78350对此进行通信、并以250ms 的间隔对其执行 Ping 操作以获取数据。 我们正在对每个电池电压的两个字节进行单独的 i2c 读取、因此我不认为我们看到了您描述的问题。
但是、我们确实注意到、电压噪声恰好每两秒发生一次。 BQ76940数据表显示这是温度读取频率、因此我们探测了这些节点。
这是热敏电阻 R66/RTD3上的电压。 当电流流经电阻器时、电压会下降、测量结束时、似乎会产生某种反激效应。 不确定它实际上是否是反激式效果、这正是我们目前所说的效果。

这是 C4上的电压、即 Vc10x 和 Bat 之间的电容器。 这里似乎叠加了两个信号。 小尖峰会以250ms 的间隔发生、我们认为这是 ADC 对电池电压进行采样。 较大的尖峰在2秒间隔内发生、我们认为这是启用热敏电阻进行测量的结果。 这三个热敏电阻的偏移量大约为每秒2/3。 可以看到"反激效应"、这会导致在热敏电阻测量后立即发生 ADC 采样上的错误测量。 不确定为什么只有 Cell12在所有电池同时采样的情况下始终读数比其他电池低5-10mV。 使用万用表进行交叉检查时、所有电池的电压都相同、低至毫伏。

为什么热敏电阻测量值看起来与观察到的反激效应相关? 是否有任何方法可以抑制这种情况、以保持电池12的精确电压读数?
Daniel、您好!
我相信此主题可以解决您的问题: (+) BQ76940:bq76940与 bq78350-R1的奇怪频率噪声-电源管理论坛-电源管理- TI E2E 支持论坛。
您可以更正、每2秒重复干扰可能表示 与热敏电阻相关的问题、这在文章中得到了解决。 我将链接文章 bq76930和 bq76940评估模块(修订版 C)中讨论的 EVMUG。 希望这对您有所帮助!
最棒的
Andria
我们使用的是这个二极管、它似乎是一个相当标准的二极管: https://www.diodes.com/assets/Datasheets/ds16003.pdf
我们尝试将射频(R13、R15和 R36)换用100欧姆电阻器、到目前为止、噪声问题仍未解决。 但是、我们仍然看到 Cell12上存在5mV 的偏移。