您好!
客户的电路在启动时栅极引脚意外关闭时出现问题。
但是,在下列情况下,问题得到了改善。
Pattern1:
当它在启动后运行了一段时间时、关闭它的行为突然消失。
Pattern2:
将 VIN 和 VCC 之间的电容器更改为 VCC 和 CSn 之间时、问题不再出现。
客户正在使用“ZXMP10A18KTC”。
https://www.diodes.com/assets/Datasheets/ZXMP10A18K.pdf
(QG:26.9nC (典型值))
在上面的背景中、我收到了客户的以下问题。
请给我建议。
1、对于小于30nC 的 FET、是否可以在 VCC 和 CSN 之间使用电容器?
这种风险是否仅限于“如果连接到 CSn,由于 VCC 电流流经 CS 电阻器,电流感测中会有偏移”?
https://e2e.ti.com/support/power-management/f/196/t/868631?tisearch=e2e-quicksearch&keymatch=LM3409%20Cf
2、Pattern1的改进原因是 FET 的 Qg 温度变化吗?
LM3409侧的运行变化是否会产生影响?
请告诉我可能的原因。
请告诉我、当 FET 的 Qg 为30nC 或更低时、为什么建议使用"VIN-VCC CAP"。
QG 约为30nC、因此客户对该设计感到困惑。
4.关于下面另一个线程的答案内容
https://e2e.ti.com/support/power-management/f/196/t/868631?tisearch=e2e-quicksearch&keymatch=LM3409%20Cf
“如果 CF 连接到 Vin,当 MOSFET 打开电流进行充电时,栅极将通过 CS 电阻器,并可能导致错误的前沿跳闸。”
您能告诉我"错误前沿跳闸"发生原理的详细信息吗?
内部电路的哪一部分会导致前缘跳闸?
此致、
Yusuke
