[参考译文] BQ25708：跟踪&quot；REGN 定期退出&quot；

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器件型号：BQ25708

您好！

这是对此处开始的线程的后续操作：

在该主题中、我描述了一个问题、即随机 IC 看起来会定期重启、REGN 上的电压在所需的6V 和0V 之间振荡、并且充电器芯片会重复重启。

建议的修改已经适用，但这个问题仍然存在。

还有什么可以被破坏？

谢谢、此致

Andre Cilia

0 admin 1 年多前

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您好 Andre、

我记得您上次的帖子、我们怀疑其中一个 FET 短路可能会导致问题、因为需要手动返工。对于新电路板、您确定电感器或 FET 上没有短路吗？

进一步思考如何调试和缩小问题范围、我有几个问题和建议：

-您的电源上的电流限制/钳位设置为什么？

－您是否尝试仅通过电池供电？默认情况下、芯片将在低功耗模式下加电、但您可以将 EN_LWPWR 设置为0 (0x12[15]=0)以启用性能模式、该模式将启动 REGN。

-从 VBUS 上电时、您可以尝试将 ILIM_HIZ 设置为0V 以强制使用 HIZ 模式(转换器将被禁用)、以查看 REGN LDO 是否也在 HIZ 模式下保持低电平。

谢谢、

Khalid

0 admin 1 年多前

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您好 Khalid、

很高兴再次与您交谈！

我可以确认、我在由引脚 LODRV1驱动的 FET 上发现一个死区短路。

很遗憾、我设置为重新启动 IC 的任何配置在重新启动时都会立即丢失、因此我不会执行您建议的测试。

此致、

Andre

0 admin 1 年多前

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您好 Andre、

如果您在低侧降压 FET 上看到死区短路、则其他测试无关紧要。我怀疑是制造或布局问题。您应该可以使用 FET、因为它们已用于许多降压/升压控制器设计。

谢谢、
Khalid

0 admin 1 年多前

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Andre、

是否有此问题的更新？

Khalid

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