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器件型号：BQ27545-G1 尊敬的 TI 专家：
我的客户在 BQ27545上有一个 PP 项目、 有一个非常接近 B+的 SDA 测试点、这可能会导致有时短路。 它们使用 HDQ 进行通信、因此它们不关心 I2C 是否无法正常工作。 它们 故意将 SDA 和 B+短路、并进行了许多试验、例如高温/低温工作、多个充电/放电周期、 静态电流监控和所有其他功能测试、到目前为止一切都运行良好。 您能否就此案例提供一些建议、保持当前设计是否安全？ 如果您能分享有关芯片内部电路 SDA 的更多信息、我将不胜感激、并 建议此类短路是否会带来潜在风险。 非常感谢。
