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[参考译文] CSD19536KTT:当半桥中的较低 MOS 关断时、会出现电压浪涌

Guru**** 2381740 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD19536KTT
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/762135/csd19536ktt-there-is-a-voltage-surge-when-the-lower-mos-in-the-half-bridge-is-turned-off

器件型号:CSD19536KTT

以下是我们客户的原理图设计。

 M-的电流要求为 350A 持续5秒、275A 持续5分钟或 125A 持续1小时。

如下图所示、当半桥中的较低 MOS 关断时会出现电压浪涌。

黄色的是 栅极电压(低 MOS),、绿色的是 M-电压。

电压浪涌接近60V。 我们的客户不确定是否可以对 MOS 进行消磁。 他们希望 TI 能得出结论。

他们也期待 得到改进的解决方案。

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    尊敬的 Kevin:
    感谢您向客户推广 TI FET。 CSD19536KTT 具有100V BVDSS 额定值、不应因波形中显示的电压尖峰而损坏。 当低侧 FET 关断且高侧 FET 导通时、在开关(M-)节点处看到电压过冲是正常现象。 这是由环路中的寄生电感和电流的快速上升时间(即 V = LDI/dt)引起的。 振铃频率与 FET 的寄生电感和输出电容有关。 如果存在这种问题、可通过以下方法来减少振铃: www.ti.com/.../SLPA010
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    谢谢你。