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器件型号：BQ28Z610 我们正在验证电量监测计的保护事件。 到目前为止、我们已成功验证了电池欠压、过压和欠温情况。 这意味着一旦超出阈值电压和温度、相应的 FET 将打开(即在放电或充电时、DSG 或 CHG FET 将打开、栅极电压将下降)。
这是我们的问题：对于过热放电事件、DSG FET 不会打开。
在 Golden File 中、我们的阈值设置为60C、我们将电路板置于温度室中、温度超出此值。 在读回温度寄存器时、我们看到电量监测计实际上会看到温度高于60C。 话虽如此、DSG FET 仍然导通。 OTD 检测位在 SAFETYALERT 中设置、这意味着电量监测计知道它在放电情况下过高。
我们缺少什么？ 如果检测到过热、黄金文件中是否有更多设置可实际打开 FET？ 我们期望在检测到保护事件时、DSG FET 应打开。 我们已经确认这在欠压和欠温设置下有效、为什么它不适用于 OTD？
