请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
器件型号:LM2940-N 你(们)好
关于 National 产品(National Semiconductor 产品)、"P+产品增强测试"写在数据表的"特性"中。
我了解 National Semiconductor 的旧器件。 但是、我们的客户问我们它是什么。 您能否解释一下该测试是什么?
此致、
本志本
This thread has been locked.
If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
你(们)好
关于 National 产品(National Semiconductor 产品)、"P+产品增强测试"写在数据表的"特性"中。
我了解 National Semiconductor 的旧器件。 但是、我们的客户问我们它是什么。 您能否解释一下该测试是什么?
此致、
本志本
您好、Koji Hamamoto、
P+产品增强计划最初涉及测试、以筛选出可能导致安全工作区的组装和器件缺陷以及高应力条件下的其他故障。 自那时以来、制造质量和测试覆盖率的提高消除了提及在现代器件中测试的 P+增强功能的必要。 它基本上涵盖在通过 ABS 的所有产品上。 最大 短路电流测试和其他安全工作区测试。 有关 P+产品增强测试的其他信息、请参阅美国国家半导体电源 IC 数据手册的附录 C、网址为 :e2e.ti.com/.../NationalSemiconductor_2D00_PowerICsDatabook1995OCR_5F00_AppendixC.pdf
谢谢、
Gerard