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[参考译文] CSD86330Q3D：用于测量数据表电气特性的测试设置

admin
Guru**** 2378650 points
Other Parts Discussed in Thread: CSD86330Q3D
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/801606/csd86330q3d-test-setup-used-in-measuring-the-datasheet-electrical-characteristics

器件型号：CSD86330Q3D

您好！

是否可以申请用于测量 CSD86330Q3D 电气特性的测试设置？ 客户将此部件用于军事应用、他们希望将其暴露在辐射中、然后在之后对其进行表征。

确实有一列用于测试条件、但我们看不到 TGR 设置。 在测量电气特性时、该引脚是否保持开路、是否接地或连接到另一个引脚？

谢谢、
Elisha

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    TI__Guru**** 2378650 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Elisha、
    感谢您提出问题。 TGR (顶部栅极回路)通过接合线在内部连接到 VSW (开关节点)。 它可以为栅极驱动器 IC 提供低电感返回路径、并且电流能力很小。 对于低电流/非开关测量、它可以保持断开状态。 FET 的导通电阻由 VIN 至 VSW (顶部 FET)和 VSW 至 PGND (底部) FET 构成。 在将 TGR 连接到栅极驱动器 IC 上的 SW 引脚的情况下测量功率损耗和效率。
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    TI__Guru**** 2378650 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    谢谢、John！