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器件型号:BQ76940 尊敬的 TI 专家:
我的客户在他们的项目中设计了 BQ76940、他们发现在所有制造过程之后、0.3%的 BQ76940被损坏。 这种现象是 VC0和 GND 之间的阻抗非常小、而正常芯片很大。 他们怀疑 ESD 会导致这种情况、但他们找不到 您能帮您审查所附设计并提供一些建议吗? 非常感谢。
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