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[参考译文] BQ76940:原理图设计问题

Guru**** 2556940 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ76940

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/798874/bq76940-schematic-design-questions

器件型号:BQ76940

尊敬的 TI 专家:

我正在使用 bq76940设计产品、我有一些原理图问题。 请帮助我解决这个问题。

Q1:我注意到在 bq76940的应用中、一个二极管从 VC5连接到 VC5X。 我想知道、为什么可以消除该二极管、也可以直接短路?

Q2:有一段标题为"缩短测试时间"的段落表示 SYS_CTRL2寄存器中提供了一个特殊的调试和测试配置位、称为[DELAY_DIS]。 设置[DELAY_DIS]会绕过 OV/UV 保护故障计时器、并允许在应用此类故障条件后的200ms 内记录故障条件。 我对如何缩短测试时间感到困惑。您能更清楚地解释一下吗?

非常感谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Minqi、
    二极管可防止 VC5上的损坏电压、从而使引脚无法报告引脚上的满电压。 二极管应该是一个传统的二极管、因为 VC5X 引脚会使运行中的某些二极管发生磁通、并且二极管在正常运行时不会导通。 因此、不需要肖特基型二极管、直接短路也会加载引脚并报告电芯5的电压不正确。 请参阅图20和 www.ti.com/.../slua749a.pdf 中的相关讨论
    DELAY_DIS 会在 OV/UV 之前缩短数字延迟。 如果测试15节电池并延迟4秒、则测试时间将为15 x 4 = 60s 或更高。 使用 DELAY_DIS 功能、15节电池的测试时间将为15 x 0.2 = 3s 或更多。 因此 DELAY_DIS 每次测试可节省57秒。 当然、它取决于为设计选择的时序。