根据数据表、栅极电容器 Cgate 由等式15计算得出。 从第一项中减去固有电容器 Cintos。 在上面的文本中、CINIS 的值被规定为大约175pF。
在设计工具(TPS2475x_Design_Calculator_LowVin_Rev-.xls)中、Cgate 以第71行计算。 在这里、这个 Cintos 是一个完全不同的值、此值由(22nC/5.8V)计算得出、这些值分别取自第24行和第26行。 该值等于3.8nF。 因此、我预期的10V/ms 压摆率(导致0.5A 负载50µF μ F 的输出电容器)甚至会导致负 Cgate。
由于通过在数据表中将4.7nF 用作 Cgate 的示例(图44中的测量值)可实现合理的结果、我认为设计工具是错误的。
如果我只能使用175pF 作为设计工具第71行中的第二个术语、或者22nF (第24行)的栅极电荷是否存在更全局的错误、您能否建议您快速解决?
dV/dt 控制的精度需要注意一点。 通过查看数据表中示例的测量结果(图44)、可以看出实际输出压摆率大约是预期值的两倍(根据等式15、预期值为7V/ms、假设175pF 正确)。 根据经验因子2 (意味着使用计算值的两倍)更正计算出的 Cgate 是否合理、或者器件生产过程中 FET 参数是否存在很大变化?