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[参考译文] UCC28070:UCC 28070老化损坏 MOSFET 问题

Guru**** 2540720 points
Other Parts Discussed in Thread: UCC28070

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/841393/ucc28070-ucc-28070-aging-damaged-mosfet-problem

器件型号:UCC28070

UCC 28070老化损坏 MOSFET 问题:UCC28070是 PFC、输入电压180-265VAC、输出390V 7A、老化测试中 MOS 损坏、两个 MOS 都将损坏。 e2e.ti.com/.../UCC-28070-Aging.docxe2e.ti.com/.../PCB-FILE.pdf

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    您好 

    您所连接的漏极开关波形看起来不正确。
    它的形状错误、看起来 FET 在不应该打开时会缓慢打开。

    请附上原理图的 pdf  

    此致

    John

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    尊敬的 John:

       Sch、我正在整理、看看 PCB 和波形。 您有什么建议?SCH、我将对 PCB 和波形进行分类。 你建议什么?

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    尊敬的 John:

      连接的是 SCH、。 请确认 UCC28070的问题。 谢谢!e2e.ti.com/.../UCC28070-SCH.pdf

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    你(们)好  

    我不会这么长时间的回复。 你得说什么?

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    您好 

    原理图中的元件值不正确。
    例如、设置开关频率的电阻器的值与设置最大占空比的电阻器的值相同。
    这将为您提供 Dmax = 1

    这将导致电流互感器和升压电感器饱和。

    因此、我注意到 VINAC 和 VSENSE 上的分压比差别很大。

    可能还有其他组件值需要更改。

    我建议您阅读 UCC28070的数据表、并为您的应用使用 Excel 计算器工具。

    该计算器位于以下位置:

    http://www.ti.com/product/UCC28070/toolssoftware

    此外、我建议您在排除设计故障时禁用抖动功能。

    这样可以更轻松地查看开关波形。

    此致

    John

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    你(们)好

    我希望您在设计方面取得了一些进展。 由于没有对最后一个帖子作出回复、我将关闭此帖子。 如果您有更多问题、请打开新帖子。

    此致

    Peter