If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.
闪存通过将电子电荷存储在浮动栅极存储器单元中来存储数据。 如果 X 射线击中浮动门、电荷可能泄漏。 当泄漏超过一定程度时、该位将被擦除。 因此、理论上、在 X 射线下始终存在曝光闪存的风险。 闪光是否损坏取决于它接收到的辐射量、这受 X 射线机器的曝光时间、射束电流和电压电势的影响。 X 射线机不同、因此 TI 很难指定安全阈值。
但是、客户可以执行测试：如果设备能够承受 X 射线暴露的时间比实际应用案例长10倍、则设备应该正常。 客户应避免在 X 射线下长时间检查或离开电路板。
此外、X 射线机器通常生成相对较宽的频谱、但仅使用特定频率来生成图像。 应用薄锌膜过滤输出不必要频率的技术可用于减少电路板的 X 射线曝光。 请参阅 Richard C. Blish II、Susan X.Li 和 David Lehtonen、《表面贴装 IC X 射线检查的滤波器优化》、《IEEE 器件和材料可靠性交易》、第2卷、第4期、2002年12月。
