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[参考译文] BQ77915：CHG 和 DSG MOSFET 不会因堆叠接口而导通

admin
Guru**** 2562120 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ77915

请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/830210/bq77915-chg-and-dsg-mosfets-are-not-turning-on-for-stacking-interface

器件型号：BQ77915

您好！

我在使用 BQ77915的7节电池平衡设计中遇到了问题。 我正在使用电阻器和电源来测试 PCB。 下面是我看到的每个模块的电压(每个电压以每个器件的本地 VSS 为基准)：

顶部：

  1. Pres = 15.47V
  2. VDD = 15.48V
  3. AVDD = 3.05V
  4. CCFG = 3.05
  5. DSG = 12.58V
  6. CHG = 12.58V
  7. TS = 0V (这对我来说是不合理的)
  8. LD =-11.64V
  9. LPWR = 3.05V
  10. CBI = 2.26V

底部：

  1. Pres = 14.66V
  2. VDD = 11.62V
  3. AVDD = 3.03V
  4. CCFG = 0V
  5. DSG = 0V
  6. CHG = 0V
  7. TS = 0V
  8. LD = 0V
  9. LPWR =未连接
  10. CTRD = 12.04V
  11. CTRC = 12.04V

附件是我的原理图、供参考。 请注意：堆栈顶部器件的 PRIS 引脚通过10K 电阻上拉至 PACK+。 此外、我修改了堆栈中每个器件的 TS 引脚连接。 我使用10K 电阻器来仿真环境温度、而不是为每个电路使用 NTC。

如果您需要任何其他 informatione2e.ti.com/.../BQ77915.pdf、请告诉我

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    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Alex：

    要实现电池平衡、首先需要满足一些条件。 数据表的9.3.4对它们进行了说明。 它们是：

    • 需要将 CBI 引脚拉低。
    • 电池需要充电。 请查看数据表的第9.3.8节、了解确切的资质。
    • 电池电压至少需要为3.8V。
    • 任何器件都不能处于故障状态

    我还查看了您的原理图并提供了一些反馈：

    1. 如果使用外部电池平衡、Rin 值应为1k、而不是33。 Cin 应为0.1uF、而不是1uF。
    2. 顶部器件的 LD 引脚需要一个1MOhm 下拉电阻器连接到器件的本地接地以保护引脚。
    3. 在底部器件上、Rdsg (原理图中的 R35)应为4.5kOhm。
    4. 底部器件上的 Rchg (原理图中的 R36)应为1k Ω。
    5. 底部器件上的 RGS (原理图中的 R38)应为3.3MOhms。  

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    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    肖恩、

    我对原理图进行了您建议的更改、但仍然无法 打开 CHG 和 DSG FET。 我注意到的另一种行为是、每当我连接电子直流负载(直流负载处于待机状态且不消耗任何电流)时、底部器件上的 LD 引脚都会被拉高。

    如果您需要任何其他信息、请告诉我。

    此致、

    Alex Mazur

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    TI__Guru**** 2562120 points
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    尊敬的 Alex：

    如果两个 FET 都关断、则可能会发生几种故障：

    • 打开电线。 当(VCX - VCX-1)< Vow 持续一段延迟时间时、就会发生这种情况。 数据表的第9.3.2.3节对该故障进行了说明。 如果测量到的任何电池电压低于 OW 阈值、该阈值约为500mV。
    • OCD 或 SCD。 当(VSRP - Vsrn)< Vocd1/2的延迟时间时、会发生这种情况。 数据表的第9.3.2.4节对该故障进行了说明。 如果检测电阻器上的负载过高并导致电压低于过流放电阈值(该值因器件型号而异、但将约为-60mV)、器件将触发此故障。
    • OTD 或 UTD。 这似乎不太可能、但仍然值得再次检查。  

    请检查是否发生了这些故障、并按照数据表表表5中的说明采取必要步骤从这些故障中恢复。

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    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    肖恩、

    我仍然无法找到故障发生的位置。 我还可以执行哪些其他调试步骤？ 是否有一种简单的方法来检查我是否以某种方式损坏了我测试过的 IC？

    此致、

    Alex Mazur

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    TI__Guru**** 2562120 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Alex：

    请参阅数据表中的表5、了解故障的描述、故障的发生方式以及如何从故障中恢复。 我已经指出了我怀疑的那些问题、但最好将其用作检查清单。 探测相应的引脚并验证它们是否处于您期望的状态。  

    验证 IC 是一项非常漫长而艰巨的任务、由于器件上有很多功能、因此无法快速简单地完成。 仅当您超出引脚的绝对最大额定值之一时、器件才会损坏。 数据表的第8.1节对这些进行了说明。