This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] bq24600:BQ24600的温度过高。

Guru**** 2535750 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ24600

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/851068/bq24600-the-temperature-of-the-bq24600-is-too-high

器件型号:bq24600

尊敬的 TI 团队:

我的客户设计了电池充电器。

规范如下:

电池:3节(13000mAh)

充电电压:12.6V

充电电流:2~4A

我们通过设置2A 充电电流进行了测试。  BQ24600和高侧 FET 的温度过高。 (IC 表面温度:90~110°C)

由于 BQ24600的温度问题、E2E 上有很多问题。  是否有 BQ24600自身缺陷?

2.我 已附上设计电路和 PCB 文件。 请告诉我们如何改进它。

谢谢。

e2e.ti.com/.../0724.AMOSENSE_5F00_P_5F00_RX_5F00_Charge_5F00_Rev2.0.pdfe2e.ti.com/.../P_5F00_RX_5F00_Rev2.0_2800_Cad-file_2900_.zipe2e.ti.com/.../P_5F00_RX_5F00_Rev2.0_5F00_gerber.zip

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Downey、

    BQ24600是一款充电器控制器、可为降压稳压器的两个 FET 提供1.2MHz 栅极驱动器。 热量来自驱动器电路的功率损耗。 损耗与 FET 的开关频率和栅极充电器成正比。 这不是设备的缺陷、任何驱动程序都会丢失。 应为 FET 和充电器设计足够的铜面积、以散发由损耗产生的热量。 您还可以检查充电器的开关节点、并与数据表中的图14进行比较、以确保 FET 已在合理的导通和关断时间内正确驱动。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    尊敬的 Eric:

    感谢您的建议。  

    我认为开关线路的设计足够厚。

     您认为设计的电路没有问题吗?

    谢谢。

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Downey、

    是的、看起来 PH 节点的设计厚度足够大。 请记住、由于 BQ24600具有1.2MHz 开关频率、这会增加开关损耗(开关损耗与开关频率成正比)。 需要注意的一点是、您为 Q1和 Q2选择了 MOSFET。 您使用 的是 NTD6414ANT4G、这是一个额定电压为100V 32A 的 MOSFET、对于2A-4A 充电应用和不会超过输入电压的输入电压(Q1的 VDS)而言、这是一种超限的方法。 使用具有高 Qg (栅极电荷)的大波 efy FET 将导致 MOSFET 驱动器损耗增加:  

    MOSFET 栅极驱动器功率损耗会导致降压转换器开关时控制器 IC 上的主要损耗。 选择具有较小 Qg_total 的 MOSFET 可大幅降低 IC 功率损耗、从而避免热关断。 请参阅数据表中的 eq 22。  

    其余的布局看起来不错。