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器件型号:BQ24008 关于我的旧主题:BQ24008:充电数小时后状态突然变化和电流增加
经过2天的缓慢充电(100mA)后、芯片再次过热并在我尝试使用手持式万用表测量电池端子电压时损坏。 在我看来、这是一种 ESD 问题、它会使 IC 进入仅在 Vcc 处有足够电压/电流时损坏 IC 的状态。 电池电压3、7V。
测试并不容易、因为它似乎很少发生。 还有其他好的解释吗?