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[参考译文] UCC28780:欠压/欠压测量

Guru**** 2538955 points
Other Parts Discussed in Thread: UCC28780

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/852227/ucc28780-brown-in-brown-out-measurement

器件型号:UCC28780

您好!

是否有关于 UCC28780何时进行输入电压测量的任何信息? 是对其进行平均值计算还是每次开启 QL 时采集单个样本?
由于启动时输入电压的变化、控制器开始切换之前需要几个 UVLO 周期。 了解欠压操作可以帮助我们解决这个问题。

谢谢、

Connor

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Connor、

    感谢您关注 UCC28780 ACF 控制器。

    该控制器针对每个开关周期的负电流幅度(从 VS 引脚流出的电流)对 VS 信号进行采样、主要是在 PWML 信号的下降沿进行采样。   这意味着在低侧 MOSFET 关断之前检测到 Ivsl。  假设 FET 有足够的时间完全导通、整个大容量电压会影响初级绕组、反射到 辅助绕组并施加到 Rv1以生成电流。    

    由于此问题发生在"Brown-in"、控制  器正在寻找3个连续出现的 Ivsl > Ivsl (run)电流以满足继续启动的条件。  控制器将循环通过 UVLO、直到满足此条件。  如果在这些 测试期间输入电压显著(向下)变化、则需要增加 Vin、直到所有3个周期都满足 Ivsl (run)、或者重新计算 Rvs1 (然后 Rvs2 复位 OVP)、以便在需要 Vin 启动的级别适应 Vin 行为。

    注意:启动后、在每个周期的同一时刻完成"欠压"测量。  反射的输出 电压在退磁间隔内持续测量以用于其他目的、但输出 OV 检测的时刻恰好在该间隔结束之前。    

    此致、
    Ulrich

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好 Ulrich、

    感谢您的详细回答。

    此致、

    Connor