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[参考译文] TPS25940-Q1:器件 EN 为低电平时诊断输出的状态

Guru**** 2387830 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/780832/tps25940-q1-state-of-diagnostic-outputs-when-device-en-is-low

器件型号:TPS25940-Q1

大家好、

如果诊断输出(/FLT、PGOOD)未连接到 OUT、而是连接到不同的电压电平以连接处理器、则当器件 EN 为低电平时、这些内部 FET 的状态是什么? 是否可能存在通过这些 FET 流经上拉电阻器接地的泄漏电流?

感谢您的支持。

进行了比较

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    您好、Jared、

    当 EN=LOW 时、PGOOD 和/FLT 的状态将为低电平。
    在开漏条件下、流经这些引脚的泄漏电流最大为1uA。

    此致、
    Rakesh
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    您好、Rakesh、

    如果 PGOOD 和/FLT 的状态为低电平、这是否意味着 FET 被打开、电流可以流向地面、从而在 PGOOD 和/FLT 的输出端产生零伏电压? 因此、泄漏电流是否取决于上拉电阻的大小?

    谢谢、
    进行了比较
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    您好、Jared、

    我们将其称为灌电流、它取决于外部上拉电阻器+上拉源。
    灌电流(=上拉电压/上拉电阻器)最大值应小于10mA

    此致、
    Rakesh
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    您好、Rakesh、

    好的、很明显、当器件 EN 引脚为低电平时、这些 FET 允许电流流向接地端、对吧?

    -Jared
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    您好、Jared、

    正确。 当 EN 引脚为低电平时、这些 FET 导通并允许电流接地。

    此致、
    Rakesh