[参考译文] BQ76200：在 BMS 中驱动高侧 FET 进行预放电

您好、Sebastian、

认为系统的输入和某些电路具有大电容、可能会随着时间的推移对其进行放电。  当电池连接并尝试导通时、该电容看起来像短路、可能会导致电池出现故障。  预放电电路允许电池为电容充电、以防止 DSG 导通时出现短路。 它还可用作测试电流、以查看是否仍然存在短路、这在 TIDA-010030设计指南图27中的图片中似乎很有用。  

查看 TIDA-010030原理图、第4页、当 MCU 将 PDCHG 设置为高电平时、Q21打开、将 PDCHG_G 下拉至源(PDCHG_S)以下。  在第2页、这将打开 Q31 P 沟道 FET。  Q30为二极管(如果关断)、或低电阻(如果导通)。  电流将从 BAT+流经保险丝 Q30、Q31和 R132-R133组合、再流向 PACK+、为负载中的电容充电。  根据原理图中的值、时间常量将基本上为302欧姆 x 负载电容。

设计指南的图27似乎显示了使用预放电作为测试来查看是否可以打开 FET。  这可能是一个很好的用途。  如图所示、在空载情况下、PACK+电压会快速上升。  如果系统的输入电容为1000uF、则时间常数为(302 x 1000) us = 0.3秒。 在图27等简短测试中、电压可能不会上升太多。  您需要决定是根据小电压上升做出决定、还是让预放电路径保持更长的时间以使电压恢复到更接近正常。  请注意、如果系统提供负载、则电流将受到 R132-R133组合的限制。  通常、您希望在您打开放电 FET、OCD 和 SCD 之后以及 UV、OT、UT 或刚启动时使用预放电。  您使用的算法将取决于您的系统需求。