您好!
我们的客户希望我们分析他的系统随时间变化的精度。 当他使用 MOSFET 作为电流(具有 PWM)时、我们需要知道基准电压(来自 LMR36503)如何随时间(20年)的变化而漂移。
您有这种信息吗?
此致、
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您好!
我们为该器件提供了裸片时基故障率和 FMD: https://www.ti.com/lit/fs/snvaa01/snvaa01.pdf?ts=1668536993139&ref_url=https%253A%252F%252Fwww.ti.com%252Fproduct%252FLMR36503-Q1%253Fdcmp%253Ddsproject%2526hqs%253D
稳压范围外的 Vout 分布会掩盖潜在的带隙漂移。
该器件 内核已通过严格的资质认证标准、并采用了尝试和加速器件老化的技术。 针对产品 特性定义了针对 VFB 基准的器件限值。 结果。
您好 Aurelie、
所有这些数字都是计算值。
FIT 是一种数学表达式、通过由技术工艺、封装、芯片面积、功耗等定义的常量进行计算
每10^9 20 FIT 意味着每10^9运行时间20组件故障。
裸片时基故障可能包括调节外的 Vout。
FMD 会分解典型的器件故障模式并将其表示为分布。
以下是一篇文章、可以更清楚地回答您的问题:
你(们)好
小数不适合您、因为您只有20个组件。 通常情况下、您有10^5 个设备在10^4小时(~1年)左右工作、这将导致20个组件故障。
您可以在以下链接中找到 FIT 定义:
以下计算器在给定运行时间内转换故障比例和平均故障率 FIT。
故障比例是指在给定时间内单个单元发生故障的概率或人口比例的预期值。 FIT 是指每10^9个器件小时的故障次数。
假设为您提供了在 X 小时内运行的大量单元(n)。 在这些 n 个单元中、某个数字(y)出现故障。 此计算器根据该故障率推断时基故障(FIT)。 它将告诉您在给定当前数据集的情况下、每10^9个器件小时可预期的故障次数。