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器件型号:LM7480-Q1 您好!
1) 1)使用以下 LM7480-Q1 IC 构建的电路是否通过大电流注入(BCI)–ISO11452-4 200mA 测试?
2) 2)如果它未通过测试、将铁氧体置于下图中的红色位置是否会解决该问题? 您会推荐什么?

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您好、Omer、
很抱歉耽误你的答复。 您指出的共源极拓扑电路应该能够通过 大电流注入 ISO11452-4 200mA 测试。 通过 BCI 测试的关键是使去耦电容器(CVS)靠近 IC。 无需在电源路径中使用铁氧体磁珠。 我们的客户无需任何其他组件即可通过 BCI 测试。 根据 测试的频率范围、您最多需要并联多个去耦电容器(1uF+0.1uF+0.01uF)来抑制 VS 引脚上的噪声。